Frustration effect on escape rate in Josephson junctions between single-band and three-band superconductors in the macroscopic quantum tunneling regime

Автор(и)

  • I. N. Askerzade Department of Computer Engineering and Center of Excellence of Superconductivity Research, Ankara University Ankara 06100, Turkey
  • A. Aydin Department of Computer Engineering and Center of Excellence of Superconductivity Research, Ankara University Ankara 06100, Turkey

DOI:

https://doi.org/10.1063/10.0003738

Ключові слова:

Josephson junctions, quantum tunneling, single-band and three-band superconductors.

Анотація

Досліджено частоту переходів S → R (з надпровідного S-стану в резистивний R-стан) у джозефсонівському контакті, який утворений s-хвильовими однозонними (SB) та трьохзонними(ThB) надпровідниками (переходи SB/ThB) у режимі макроскопічного квантового тунелювання. Використано наближення ефективного критичного струму в SB/ThB контактах. Показано, що частота переходів має особливість у разі фрустраційних ефектів у ThB надпровідниках. Включення режимів Леггетта у ThB надпровідниках призводить до збільшення частоти переходів у трьох канальних джозефсонівських контактах в порівнянні з одноканальними.

Downloads

Опубліковано

2021-02-16

Як цитувати

(1)
Askerzade, I. N.; Aydin, A. Frustration Effect on Escape Rate in Josephson Junctions Between Single-Band and Three-Band Superconductors in the Macroscopic Quantum Tunneling Regime. Fiz. Nizk. Temp. 2021, 47, 309-314.

Номер

Том 47 № 4 (2021)

Розділ

Надпровідність, зокрема високотемпературна

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають