Escape rate in ac SQUID on Josephson junction based on single- and multi-band superconductors in thermal activation regime
DOI:
https://doi.org/10.1063/10.0020591Ключові слова:
Josephson junction, critical current, escape rate, thermal activation regimeАнотація
Частота розпадів (переходів з надпровідного S-стану в нестабільний резистивний R-стан) у НКВІД змінного струму з джозефсонівським переходом на основі одно- та багатозонних надпровідників досліджується з урахуванням ефектів фрустрації в багатозонному надпровідному стані. Використовуючи підхід ефективного критичного струму, показано, що швидкість виходу в режимі термічної активації може проявляти якісні особливості, спричинені ефектами фрустрації у дво- та тризонних надпровідниках.
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
Downloads
Опубліковано
2023-07-26
Як цитувати
(1)
Aydin, A. .; Askerzade, I. N. .; Askerbeyli, R. . Escape Rate in Ac SQUID on Josephson Junction Based on Single- and Multi-Band Superconductors in Thermal Activation Regime. Fiz. Nizk. Temp. 2023, 49, 1107–1111.
Номер
Розділ
Надпровідність, зокрема високотемпературна