Влияние микроволнового излучения на ток возникновения процессов проскальзывания фазы в широких пленках олова
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/1.2746835Ключові слова:
линии проскальзывания фазы, широкие сверхпроводящие пленки, стимуляция сверхпроводимости.Анотація
Экспериментально исследованы и проанализированы температурные зависимости стимулированного микроволновым полем максимального тока существования вихревого резистивного состояния широких и тонких оловянных пленок ImP(T). Показано, что экспериментальнo полученные температурные зависимости тока ImP(T) хорошо аппроксимируются формулами, аналогичными формуле для равновесного случая теории Асламазова-Лемпицкого, в которой критическая температура Тс заменена стимулированной критической температурой TcP, причем это справедливо для всей температурной области существования режима широкой пленки. Обнаружено, что с увеличением частоты облучения абсолютная величина ImP(T) растет, а температурная область стимуляции ImP(T) расширяется в направлении более низких температур.
Downloads
Опубліковано
2007-07-02
Як цитувати
(1)
В.М. Дмитриев and И.В. Золочевский, Влияние микроволнового излучения на ток возникновения процессов проскальзывания фазы в широких пленках олова, Low Temp. Phys. 33, (2007) [Fiz. Nizk. Temp. 33, 849-854, (2007)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.2746835.
Номер
Розділ
Надпровідність, зокрема високотемпературна
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.