Электронография двухкомпонентных кластеров Ar-Kr: особенности нуклеации, механизмов роста и структурных состояний
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/1.2400697Ключові слова:
смешанные кластеры, механизмы роста, структура, гомогенное и гетерогенное зародышеобразование, сверхзвуковая струя.Анотація
Впервые проведено электронографическое исследование структуры и процессов роста кластеров, формирующихся в адиабатически расширяющихся сверхзвуковых струях газовых смесей инертных газов. Исследованы смеси Ar-Kr, содержавшие 0,1, 0,5, 2,5 и 20% атомов Kr. Температура газовых смесей на входе в сопло T0 составляла 100 и 120 К, давление P0 варьировали от 0,15 до 2,5 атм. В результате проведенных экспериментов получен ряд данных, раскрывающих картину кластерообразования в газовых смесях Ar-Kr. Установлено, что механизмы формирования кластеров существенно зависят от концентрации примесного криптона и температуры газовой смеси на входе в сопло. Прослежена эволюция характера кластерообразования от гомо- до гетерогенного. Впервые выявлена интенсификация процесса роста кластеров инертных газов примесью и обнаружена концентрационная зависимость перехода от процесса формирования твердых растворов к образованию кластеров только примесного криптона.
Downloads
Опубліковано
2006-10-25
Як цитувати
(1)
А.Г. Данильченко, С.И. Коваленко, and В.Н. Самоваров, Электронография двухкомпонентных кластеров Ar-Kr: особенности нуклеации, механизмов роста и структурных состояний, Low Temp. Phys. 32, (2006) [Fiz. Nizk. Temp. 32, 1551-1559, (2006)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.2400697.
Номер
Розділ
Низькоpозмірні та невпорядковані системи
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.