Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/1.1542480Ключові слова:
PACS: 61.46 w, 81.10.AjАнотація
С помощью электронографической методики впервые определена размерная зависимость среднеквадратичной амплитуды атомов < u 2 > 1/2 в свободных кластерах криптона. Средний размер кластеров N̅ сформированных в сверхзвуковых струях криптона, изменялся от 1×103 до 2×104 атомов/кластер. Установлено, что при уменьшении размера кластеров < u 2 > 1/2 увеличивается. Сопоставление наблюдавшейся зависимости с расчетной, учитывающей долевой вклад поверхностных атомов, показало, что для кластеров с N̅≥4×103 атомов/кластер увеличение < u 2 > 1/2 при уменьшении N̅ обусловлено только ростом относительного числа поверхностных атомов. Корреляция между расчетом и экспериментом исчезает, когда N̅≤4×103 атомов/ кластер. В этом случае экспериментальные значения заметно превышают расчетные, указывая тем самым на то, что в малых агрегациях помимо поверхности действуют также и другие факторы, способствующие росту < u 2 > 1/2.
Downloads
Опубліковано
2003-03-06
Як цитувати
(1)
В.В. Еременко, С.И. Коваленко, and Д.Д. Солнышкин, Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона, Low Temp. Phys. 29, (2003) [Fiz. Nizk. Temp. 29, 469-472, (2003)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.1542480.
Номер
Розділ
Короткі повідомлення
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
