Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта
Ключові слова:

Downloads
Опубліковано
1992-02-10
Як цитувати
(1)
Верховский, С. В.; Окулов, В. И.; Окулова, К. А.; Раевский, В. Я. Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта. Fiz. Nizk. Temp. 1992, 18, 164-167.
Номер
Розділ
Статті
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.