Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта

Автор(и)

  • С. В. Верховский
  • В. И. Окулов
  • К. А. Окулова
  • В. Я. Раевский

Ключові слова:

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Downloads

Опубліковано

1992-02-10

Як цитувати

(1)
Верховский, С. В.; Окулов, В. И.; Окулова, К. А.; Раевский, В. Я. Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта. Fiz. Nizk. Temp. 1992, 18, 164-167.

Номер

Том 18 № 2 (1992)

Розділ

Статті

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають

<< < 1 2