Термоэлектрическая эффективность фольг полуметаллических и полупроводниковых сплавов Bi1–xSbx
DOI:
https://doi.org/10.1063/1.5049158Ключові слова:
полупроводниковые фольги, термоэлектричество, топологический изолятор, размерные эффекты, теплопроводность, рассеяние фононов.Анотація
Экспериментально исследованы температурные зависимости теплопроводности χ(Т), электропроводности σ(Т) и термоэдс α(Т) в фольгах сплавов Bi1–xSbx в полуметаллическом и полупроводниковом состояниях в интервале температур 4,2–300 К. Фольги сплавов Bi1–xSbx получали методом высокоскоростной кристаллизации тонкого слоя расплава на внутренней полированной поверхности вращающегося медного цилиндра. Высокие скорости кристаллизации v = 5·105 м/с обеспечивали равномерное распределение компонентов в объеме. Толщина фольг составляла 10–30 мкм с текстурой 101̅2 параллельно плоскости фольги и осью С3, совпадающей с нормалью к поверхности фольги. Показано, что теплопроводность полуметаллических фольг Bi–3 ат.% Sb в области низких температур (T < 10 К) на два порядка меньше, а в полупроводниковых (Bi–16 ат.% Sb) на порядок меньше, чем в массивных образцах соответствующего состава. Эффект трактуется с точки зрения комбинированного дополнительного рассеяния фононов на поверхности и гра-ницах зерен фольги. Из зависимостей ρ(Т), α(Т), χ(Т) рассчитана термоэлектрическая эффективность фольг ZT = α2σ/χ в интервале температур 5–300 К. Установлено, что при 100 К термоэлектрическая эффективность ZT в полупроводниковых фольгах сплавов n-типа Bi1–xSbx в 2 раза выше, чем у массивных образцов аналогичного состава и кристаллографической ориентации, что может быть использовано в низкотемпературных термоэлектрических преобразователях энергии.Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
Downloads
Опубліковано
2018-06-19
Як цитувати
(1)
Николаева, А.; Конопко, Л.; Гергишан, И.; Рогацкий, К.; Стачовик, П.; Ежовски, А.; Шепелевич, В.; Прокошин, В.; Гусакова, С. Термоэлектрическая эффективность фольг полуметаллических и полупроводниковых сплавов Bi1–xSbx. Fiz. Nizk. Temp. 2018, 44, 996-1003.
Номер
Розділ
Електронні властивості провідних систем