Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле

Анотація

Представлены результаты исследования атомно-силовой микроскопии изображений кристаллического SnTe, конденсированного на подложки ситалла. Впервые для анализа полученных результатов последовательно использованы двумерные прямое и обратное по интенсивным частотам преобразования Фурье. Установлена скрытая периодичность в расположении объектов на поверхности пленки, которая подтверждается двумерной автокорреляционной функцией изображения. К распределению азимутального угла вектора нормали к поверхности применено одномерное преобразование Фурье. Установлено, что поверхность конденсата имеет неизменный набор элементов симметрии, хотя размеры поверхностных объектов монотонно зависят от времени осаждения. Выполнена аппроксимация распределения полярного угла вектора нормали единственной одномодальной функцией, форма которой не зависит от времени осаждения.