О влиянии вакансий на электронные свойства бериллия
DOI:
https://doi.org/10.1063/1.2796159Ключові слова:
локальная плотность состояний, метод присоединенных плоских волн, вакансия, аморфная пленка.Анотація
Путем ab initio численного моделирования методом полного потенциала линеаризованных присоединенных плоских волн вычислены плотность электронных состояний и зарядовая плотность идеального кристалла бериллия и кристалла, в котором каждый 64-й узел решетки вакантен. Обнаружено, что плотность электронных состояний бериллия с подрешеткой вакансий на уровне Ферми примерно в два раза больше, чем у идеального кристалла. При этом зарядовая плотность электронов проводимости на уровне Ферми имеет глубокий минимум в области вакансии и претерпевает существенные изменения в межузельных полостях вокруг вакансии. Оценка показывает, что температура сверхпроводящего перехода бериллия с вакансиями приблизительно в 150 раз выше, чем в идеальном кристалле.Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
Downloads
Опубліковано
2007-08-27
Як цитувати
(1)
Бакай, А.; Тимошевский, А.; Калькута, С.; Месланг, А.; Владимиров, В. О влиянии вакансий на электронные свойства бериллия. Fiz. Nizk. Temp. 2007, 33, 1170-1173.
Номер
Розділ
Листи до редакції