Вэйвлет анализ и его применение в туннельной и рентгеновской спектроскопии

Фазовые переходы и структура полупроводниковых соединений

Автор(и)

  • М.В. Чукалина 1 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН г. Черноголовка, Московская обл., 142432, Россия
  • Х. Функе Источник синхротронного излучения ESRF, Немецкая национальная станция ROBL отделение Института радиохимии Исследовательского центра Роззендорфг. Гренобль, 38043, Франция
  • Ю.В. Дубровский 1 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН г. Черноголовка, Московская обл., 142432, Россия

DOI:

https://doi.org/10.1063/1.1820026

Ключові слова:

PACS: 07.05.Kf

Анотація

Демонстрируются возможности и ограничения вэйвлет анализа на примере двух практических приложений: исследования сигналов магнитотуннельной и дальней тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения урана. Дано краткое введение в вэйвлет анализ. Определен термин "размер окна" функции материнского вэйвлета, на который опирается одно из положений критерия оптимального выбора функции материнского вэйвлета. Продемонстрированы возможности разработанного авторами пакета программ, который был использован для всех расчетов, проделанных в ходе выполнения работы.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Downloads

Опубліковано

2004-09-21

Як цитувати

(1)
Чукалина, М.; Функе, Х.; Дубровский, Ю. Вэйвлет анализ и его применение в туннельной и рентгеновской спектроскопии: Фазовые переходы и структура полупроводниковых соединений. Fiz. Nizk. Temp. 2004, 30, 1235-1243.

Номер

Том 30 № 11 (2004)

Розділ

Статті