Orientational order parameter in a-N2 from x-ray data

Автор(и)

  • N. N. Galtsov B. Verkin Institute for Low Temperature Physics and Engineering of the National Academy of Sciences, 47 Lenin Ave., Kharkov 61103, Ukraine
  • O. A. Klenova B. Verkin Institute for Low Temperature Physics and Engineering of the National Academy of Sciences, 47 Lenin Ave., Kharkov 61103, Ukraine
  • M. A. Strzhemechny B. Verkin Institute for Low Temperature Physics and Engineering of the National Academy of Sciences, 47 Lenin Ave., Kharkov 61103, Ukraine

DOI (Low Temperature Physics):


https://doi.org/10.1063/1.1480244

Ключові слова:

PACS: 61.10.-i, 61.66.-f, 65.70. y

Анотація

A method is suggested and validated for the deduction of orientational order parameter values h in molecular crystals consisting of diatomics directly from integrated x-ray diffraction intensities. This method is applied to pure solid nitrogen in its a phase. It is shown that to within a good accuracy the integrated intensity of a superstructure reflection is proportional to h2. The h values determined from x-ray powder diffraction measurements agrees well with the values obtained by NQR and NMR.

Downloads

Опубліковано

2002-03-22

Як цитувати

(1)
N. N. Galtsov, O. A. Klenova, and M. A. Strzhemechny, Orientational order parameter in a-N2 from x-ray data, Low Temp. Phys. 28, (2002) [Fiz. Nizk. Temp. 28, 517-521, (2002)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.1480244.

Номер

Том 28 № 5 (2002)

Розділ

Фізичні властивості кpіокpисталів

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають

<< < 1 2 3 4 5 > >>