Соизмеримые вихревые решетки в тонких пленках V и сверхпроводящих сверхрешетках V/Si
Статьи, посвященные столетию со дня рождения Л. В. Шубникова
Ключові слова:
PACS: 74.60.Ec, 74.60.Ge, 74.76.- w, 74.80.DmАнотація
Исследованы особенности шубниковской фазы в тонких пленках сверхпроводников II рода в случае, когда магнитное поле параллельно поверхности пленки. Измерения немонотонных зависимостей критического тока Ic от магнитного поля H|| позволяют выявить соизмеримые вихревые решетки с разным количеством вихревых цепочек в пленке. Установлено, что на однородных пленках наблюдение эффекта соизмеримости параметра вихревой решетки с толщиной пленки возможно только при идеальном состоянии границ пленки, допускающем образование бесконечной решетки вихрей и их изображений. Нарушение гладкости и плоскопараллельности двух поверхностей пленки приводит к исчезновению осцилляций Ic и резкому уменьшению критического тока. На пленках впервые обнаружен lock-in переход, обусловленный влиянием поверхностного барьера. Установлено, что в тонкопленочных слоистых образцах одновременно проявляется эффект соизмеримости параметра вихревой решетки с периодом сверхструктуры и с полной толщиной образца. Рассмотрена фазовая диаграмма Н-Т однородной пленки в параллельном магнитном поле.
Downloads
Опубліковано
2001-10-10
Як цитувати
(1)
Н. Я. Фогель, Е. И. Бухштаб, В. Г. Черкасова, О. И. Юзефович, М. Ю. Михайлов, and А. Н. Стеценко, Соизмеримые вихревые решетки в тонких пленках V и сверхпроводящих сверхрешетках V/Si: Статьи, посвященные столетию со дня рождения Л. В. Шубникова, Low Temp. Phys. 27, (2001) [Fiz. Nizk. Temp. 27, 1019-1029, (2001)].
Номер
Розділ
Статті
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.