Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников

Новые методы низкотемпературного эксперимента

Анотація

Исследована роль геометрического фактора сверхпроводящего (СП) образца при магнитных измерениях плотности критических токов J_c. Показано, что небольшое отличие формы образца от цилиндрической существенно не влияет на величину J_c. Обнаружено, что ошибка в оценке J_c монокристаллов при использовании известного выражения, определяющего J_c керамик, связана именно с низким уровнем плотности B_tr захваченного магнитного потока (ЗМП) в монокристаллах по сравнению с керамиками. Предложена методика определения J_c монокристаллических и керамических образцов по измерениям пространственного распределения B_tr, создаваемого биновскими экранирующими сверхтоками при переходе всего объема образца в критическое состояние. Получена формула для определения J_c монокристаллических и керамических СП образцов в форме многоугольной и цилиндрической пластин. Для повышения точности оценки J_c вместо B_tr^max(0) использована разность B₀^*-B_c1 (B₀^* - поле, индуцирующее на геометрической оси образца B_tr^max(0); B_c1 - первое критическое магнитное поле образца). Оценены J_c и силы пиннинга YВСО и ВSСCО монокристаллических образцов. Определено, что механизмы ЗМП в этих слоистых структурах отличаются.