Низкотемпературная решеточная нестабильность SnTe
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/1.593732Ключові слова:
Анотація
При нагреве в интервале 80-290К получены температурные зависимости параметра элементарной ячейки a(T) теллурида олова с различной степенью отклонения от стехиометрии. Для образца стехиометрического состава (50 ат. % Те) на зависимости a(T) в области 90-100 К обнаружена аномалия, по-видимому, соответствующая известному сегнетоэлектрическому фазовому переходу (ФП). При 50,4 ат. % Те в интервалах 135-150 К и 200-215 К наблюдаются резко выраженные скачки параметра (Da/a»0,015), отвечающие отрицательному коэффициенту теплового расширения. При дальнейшем увеличении степени отклонения от стехиометрии (50,8 ат. % Те) указанные эффекты менее выражены. Неустойчивость кристаллической решетки в определенных температурных интервалах связывается с фазовыми переходами в подсистеме собственных дефектов - нестехиометрических вакансий, - обусловленными их перераспределением по катионной подрешетке при изменении температуры и состава. Выясняется роль релаксационных явлений в процессе перестройки дефектной подсистемы кристалла.
Downloads
Опубліковано
1999-04-10
Як цитувати
(1)
О. Н. Нащекина, Е. И. Рогачева, А. И. Федоренко, А. П. Исакина, and А. И. Прохватилов, Низкотемпературная решеточная нестабильность SnTe, Low Temp. Phys. 25, (1999) [Fiz. Nizk. Temp. 25, 390-395, (1999)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.593732.
Номер
Розділ
Динаміка кристалічної гратки
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
