Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности

Автор(и)

  • В. Г. Прохоров Институт металлофизики НАН Украины, Украина, 252142, г. Киев,

DOI (Low Temperature Physics):


https://doi.org/10.1063/1.593610

Ключові слова:

Анотація

Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa2Cu3O7-x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы.

Downloads

Опубліковано

1998-06-10

Як цитувати

(1)
В. Г. Прохоров, Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности, Low Temp. Phys. 24, (1998) [Fiz. Nizk. Temp. 24, 544-548, (1998)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.593610.

Номер

Том 24 № 6 (1998)

Розділ

Надпровідність, зокрема високотемпературна

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають

<< < 1 2