Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности
DOI:
https://doi.org/10.1063/1.593610Ключові слова:
Анотація
Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa2Cu3O7-x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы.Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
![](https://fnt.ilt.kharkiv.ua/public/journals/1/submission_24_544_en_US.png)
Downloads
Опубліковано
1998-06-10
Як цитувати
(1)
Прохоров, В. Г. Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности. Fiz. Nizk. Temp. 1998, 24, 544-548.
Номер
Розділ
Надпровідність, зокрема високотемпературна