Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита C60
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/1.593442Ключові слова:
Анотація
Методом дифракции быстрых электронов на просвет определено изменение периода решетки (DELTA a)/a монокристаллических пленок фуллерита C60 толщиной менее 10 нм. В интервале температур от комнатной до азотной величина (DELTA a)/a увеличивается с уменьшением толщины пленок. По этим данным определены коэффициенты линейного расширения пленок alphaf и поверхностного атомного слоя alphas. Величина alphas вдоль плоскости (111) равна ( 55 +- 15 )10-6K -1.
Downloads
Опубліковано
1997-08-10
Як цитувати
(1)
А. Т. Пугачев, Н. П. Чуракова, and Н. И. Горбенко, Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита C60, Low Temp. Phys. 23, (1997) [Fiz. Nizk. Temp. 23, 854-856, (1997)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.593442.
Номер
Розділ
Низькоpозмірні та невпорядковані системи
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.