Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита C60
DOI:
https://doi.org/10.1063/1.593442Ключові слова:
Анотація
Методом дифракции быстрых электронов на просвет определено изменение периода решетки (DELTA a)/a монокристаллических пленок фуллерита C60 толщиной менее 10 нм. В интервале температур от комнатной до азотной величина (DELTA a)/a увеличивается с уменьшением толщины пленок. По этим данным определены коэффициенты линейного расширения пленок alphaf и поверхностного атомного слоя alphas. Величина alphas вдоль плоскости (111) равна ( 55 +- 15 )10-6K -1.Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
Downloads
Опубліковано
1997-08-10
Як цитувати
(1)
Пугачев, А. Т.; Чуракова, Н. П.; Горбенко, Н. И. Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита C60. Fiz. Nizk. Temp. 1997, 23, 854-856.
Номер
Розділ
Низькоpозмірні та невпорядковані системи