Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов

Автор(и)

  • С. П. ЧЕНАКИН
  • В. Т. ЧЕРЕПИН
  • Б. Г. НИКИТИН
  • Г. А. КЛИМЕНКО
  • Ф. Г. РЮДЕНАУЭР
  • В. ШТАЙГЕР

Ключові слова:

Downloads

Опубліковано

1989-09-10

Як цитувати

(1)
С. П. ЧЕНАКИН, В. Т. ЧЕРЕПИН, Б. Г. НИКИТИН, Г. А. КЛИМЕНКО, Ф. Г. РЮДЕНАУЭР, and В. ШТАЙГЕР, Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов, Low Temp. Phys. 15, (1989) [Fiz. Nizk. Temp. 15, 920-925, (1989)].

Номер

Том 15 № 9 (1989)

Розділ

Статті

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають