Effect of electromagnetic radiation of spark discharge on dielectric properties of Cd1–xZnxTe crystals in the low-frequency region

Анотація

Метою роботи є дослідження впливу надзвичайно низькоінтенсивного надвисокочастотного електромагнітного випромінювання (UHF EMR), що генерується контрольованим іскровим розрядом, на низькочастотні діелектричні властивості кристалів Cd_1–xZn_xTe (CZT) та з’ясування ролі точкових дефектних комплексів у цьому процесі. Дослідження зосереджено на монокристалах Cd_1–xZn_xTe (x = 0,10–0,20), вирощених з розплаву під високим тиском інертного газу, з яких були виготовлені прямокутні зразки. Дійсна (ε′) та уявна (ε″) частини комплексної діелектричної проникності вимірювалися на частотах 1–33 кГц за допомогою ємнісного методу, а енергетичний спектр локалізованих станів (LS) визначався за допомогою скануючої фотодіелектричної спектроскопії (SPDS) до та під час впливу UHF EMR. Результати показали східчасті зміни ε′ та ε″ під час опромінення, при цьому ефекти релаксації зберігалися після опромінення. Частотна залежність 〈|Δε′|〉 та 〈|Δε″|〉 спостерігалася за ступеневим законом зменшення. SPDS виявила перебудову LS, включаючи зникнення станів у діапазоні E_V + 0,20–0,40 еВ та появу нових, що вказує на реконструкцію точкових дефектних комплексів. Ці результати підтверджують, що точкові дефектні комплекси відіграють ключову роль у діелектричній реакції кристалів CZT на слабкі електромагнітні поля та повинні враховуватися при проєктуванні радіаційних детекторів та електронних пристроїв.