Electronic density of state in valence fluctuating Kondo lattice systems studied by point-contact spectroscopy

Анотація

Розглянуто наше нещодавнє дослідження мікроконтактної спектроскопії (PCS) у валентно-флуктуаційних ґраткових системах Кондо: EuNi₂P₂, Ge-заміщених EuNi₂(P_0.8Ge_0.2)₂ та YbPd. Важка ферміонна (HF) сполука EuNi₂P₂ демонструє значну флуктуацію валентності через проміжну валентність Eu^2,5+ при низьких температурах, що призводить до сильної гібридизації між електронами провідності та f електронами (c–f гібридизація). Вимірювання густини електронних станів на EuNi₂P₂ за допомогою техніки PCS показують, що поведінка HF виникає внаслідок утворення щілини непрямої гібридизації зі структурою подвійного піка поблизу рівня Фермі внаслідок c–f гібридизації. У EuNi₂(P_0.8Ge_0.2)₂ флуктуація валентності пригнічується заміщенням Ge, і розділення двопікової структури зменшується. Це свідчить про те, що поведінка HF зумовлена флуктуацією валентності. У YbPd, де двовимірні (2D) шари Yb³⁺ та Yb^2.6+ розташовані по черзі, HF подібна поведінка з великим коефіцієнтом Зоммерфельда з’являється при низьких температурах у питомій теплоємності. Спектри PCS за структурою являють собою провал з нульовим зміщенням на асиметричному фоні, що відтворюється сумою двох кривих Фано з різними характерними температурами, та означає утворення двох резонансних станів Кондо для кожного місця Yb³⁺ та Yb^2.6+. Це свідчить про те, що локальна когерентність зумовлює великий коефіцієнт Зоммерфельда у 2D шарах Yb³⁺, які екрануються електронами провідності, створеними валентними флуктуаційними ділянками Yb^2.6+. Одержані результати свідчать про те, що PCS є потужною методикою для дослідження варіації густини електронних станів у валентно-флуктуаційних ґраткових системах Кондо.