Hemispherical X band microwave small sized open resonator for wide range from 1 to 20 permittivity characterization of solid-state dielectrics

Автор(и)

  • A. A. Breslavets O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • Li Rong Anhui Huadong Photoelectric Technology Institute, Ltd, Wuhu, China
  • Zhu Gang Anhui Huadong Photoelectric Technology Institute, Ltd, Wuhu, China
  • O. A. Voitovich O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • , O. I. Shubny O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • V. V. Glamazdin O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • M. P. Natarov O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • G. O. Rudnev O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • Z. E. Eremenko O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • A. A. Prokopenko V. N. Karazin Kharkiv National University, Kharkiv 61022, Ukraine

DOI (Low Temperature Physics):


https://doi.org/10.1063/10.0008963

Ключові слова:

open hemispherical resonator, X band, working resonant mode, Q factor, permittivity, dielectric sample.

Анотація

Проведено комп’ютерне моделювання та експериментальне дослідження відкритого напівсферичного резонатора Фабрі–Перо X діапазону з наступними характеристиками: одне дзеркало резонатора має напівсферичну форму, а інше є плоским дзеркалом та має значно менший діаметр, ніж перше дзеркало. Робоча резонансна мода є TEM005, тобто між напівсферичним та плоским дзеркалами резонатора розташовано лише 5 півхвиль. Резонатор має досить розріджений частотний спектр, наприклад, 3 резонанси в діапазоні 7–12 ГГц. При зміні діелектричної проникності діелектричних зразків від 1 до 20 одиниць відповідний діапазон резонансних частот досить великий та дорівнює 1,4 ГГц. Добротність резонатора на резонансних частотах знаходиться в діапазоні 100–600 — це достатньо для визначення діелектричної проникності діелектричних зразків, які розміщені на плоскому дзеркалі. Діаметр діелектричних зразків досить малий та дорівнює 50 мм, а висота 5 мм. Результати комп'ютерного моделюван-ня добре узгоджуються з експериментальними. Різниця резонансної частоти та добротності між експериментальними та розрахунковими значеннями становить у середньому 100 МГц та 4 одиниці відповідно при вимірюванні зразків.

Downloads

Опубліковано

2021-11-17

Як цитувати

(1)
A. A. Breslavets, Li Rong, Zhu Gang, O. A. Voitovich, , O. I. Shubny, V. V. Glamazdin, M. P. Natarov, G. O. Rudnev, Z. E. Eremenko, and A. A. Prokopenko, Hemispherical X band microwave small sized open resonator for wide range from 1 to 20 permittivity characterization of solid-state dielectrics, Low Temp. Phys. 48, (2021) [Fiz. Nyzk. Temp. 48, 48-55, (2021)] DOI: https://doi.org/10.1063/10.0008963.

Номер

Розділ

Статті

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.