Hemispherical X band microwave small sized open resonator for wide range from 1 to 20 permittivity characterization of solid-state dielectrics
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/10.0008963Ключові слова:
open hemispherical resonator, X band, working resonant mode, Q factor, permittivity, dielectric sample.Анотація
Проведено комп’ютерне моделювання та експериментальне дослідження відкритого напівсферичного резонатора Фабрі–Перо X діапазону з наступними характеристиками: одне дзеркало резонатора має напівсферичну форму, а інше є плоским дзеркалом та має значно менший діаметр, ніж перше дзеркало. Робоча резонансна мода є TEM005, тобто між напівсферичним та плоским дзеркалами резонатора розташовано лише 5 півхвиль. Резонатор має досить розріджений частотний спектр, наприклад, 3 резонанси в діапазоні 7–12 ГГц. При зміні діелектричної проникності діелектричних зразків від 1 до 20 одиниць відповідний діапазон резонансних частот досить великий та дорівнює 1,4 ГГц. Добротність резонатора на резонансних частотах знаходиться в діапазоні 100–600 — це достатньо для визначення діелектричної проникності діелектричних зразків, які розміщені на плоскому дзеркалі. Діаметр діелектричних зразків досить малий та дорівнює 50 мм, а висота 5 мм. Результати комп'ютерного моделюван-ня добре узгоджуються з експериментальними. Різниця резонансної частоти та добротності між експериментальними та розрахунковими значеннями становить у середньому 100 МГц та 4 одиниці відповідно при вимірюванні зразків.Downloads
Опубліковано
2021-11-17
Як цитувати
(1)
A. A. Breslavets, Li Rong, Zhu Gang, O. A. Voitovich, , O. I. Shubny, V. V. Glamazdin, M. P. Natarov, G. O. Rudnev, Z. E. Eremenko, and A. A. Prokopenko, Hemispherical X band microwave small sized open resonator for wide range from 1 to 20 permittivity characterization of solid-state dielectrics, Low Temp. Phys. 48, (2021) [Fiz. Nyzk. Temp. 48, 48-55, (2021)] DOI: https://doi.org/10.1063/10.0008963.
Номер
Розділ
Статті
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.