Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле

Автор(и)

  • Я.П. Салий Прикарпатский национальный университет им. Василя Стефаника ул. Шевченко, 57, г. Ивано-Франковск, 76018, Украина
  • Н.И. Бушков Прикарпатский национальный университет им. Василя Стефаника ул. Шевченко, 57, г. Ивано-Франковск, 76018, Украина
  • И.С. Былина Прикарпатский национальный университет им. Василя Стефаника ул. Шевченко, 57, г. Ивано-Франковск, 76018, Украина

DOI:

https://doi.org/10.1063/1.5004455

Ключові слова:

SnTe, АСМ изображения, преобразование Фурье, автокорреляционная функция, скрытая периодичность.

Анотація

Представлены результаты исследования атомно-силовой микроскопии изображений кристаллического SnTe, конденсированного на подложки ситалла. Впервые для анализа полученных результатов последовательно использованы двумерные прямое и обратное по интенсивным частотам преобразования Фурье. Установлена скрытая периодичность в расположении объектов на поверхности пленки, которая подтверждается двумерной автокорреляционной функцией изображения. К распределению азимутального угла вектора нормали к поверхности применено одномерное преобразование Фурье. Установлено, что поверхность конденсата имеет неизменный набор элементов симметрии, хотя размеры поверхностных объектов монотонно зависят от времени осаждения. Выполнена аппроксимация распределения полярного угла вектора нормали единственной одномодальной функцией, форма которой не зависит от времени осаждения.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Опубліковано

2017-07-20

Як цитувати

(1)
Салий, Я.; Бушков, Н.; Былина, И. Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле. Fiz. Nizk. Temp. 2017, 43, 1363-1367.

Номер

Розділ

Динаміка кристалічної гратки