NIKOLAENKO , V. A. .; SOKOLOV , S. S. . Estimation of nano-roughness parameters of a solid substrate using surface electrons over a helium film . ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, Харків, Україна, v. 52, n. 8, p. 1015–1020, 2026. Disponível em: https://fnt.ilt.kharkiv.ua/index.php/fnt/article/view/9771. Acesso em: 21 чер. 2026.