ESCALANTE-QUICENO, A. T. .; FERNÁNDEZ, V. V. .; MARTÍN, J. I. .; HIERRO-RODRIGUEZ, A. .; HLAWACEK, G. .; JAAFAR, M. .; ASENJO, A. .; MAGÉN, C. .; DE TERESA, J. M. . Focused electron beam induced deposition of magnetic tips for improved magnetic force microscopy. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, Харків, Україна, v. 50, n. 10, p. 919–927, 2024. DOI: 10.1063/10.0028622. Disponível em: https://fnt.ilt.kharkiv.ua/index.php/fnt/article/view/9297. Acesso em: 21 лис. 2024.