Верховский, С. В.; Окулов, В. И.; Окулова, К. А.; Раевский, В. Я. Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта. Fiz. Nizk. Temp. 1992, 18, 164-167.