С. П. ЧЕНАКИН, В. Т. ЧЕРЕПИН, Б. Г. НИКИТИН, Г. А. КЛИМЕНКО, Ф. Г. РЮДЕНАУЭР, and В. ШТАЙГЕР, Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов, Low Temp. Phys. 15, (1989) [Fiz. Nizk. Temp. 15, 920-925, (1989)].