[1]
Druzhinin, A. , Khoverko, Y. , Lisnykh, D. , Rogacki, K. , Ćwik, J. , Kogut, I. і Kutrakov, O. 2026. Abnormal magnetoresistance in fine-grained polycrystalline silicon layers of SOI structures. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР. 52, 11 (Вер 2026), 1541–1549.