Escalante-Quiceno, A.T. , Fernández, V.V. , Martín, J.I. , Hierro-Rodriguez, A. , Hlawacek, G. , Jaafar, M. , Asenjo, A. , Magén, C. і De Teresa, J.M. 2024. Focused electron beam induced deposition of magnetic tips for improved magnetic force microscopy. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР. 50, 10 (Сер 2024), 919–927. DOI:https://doi.org/10.1063/10.0028622.