Верховский, С.В., Окулов, В.И., Окулова, К.А. і Раевский, В.Я. 1992. Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР. 18, 2 (Лют 1992), 164–167.