ЧЕНАКИН, С. П.; ЧЕРЕПИН, В. Т.; НИКИТИН, Б. Г.; КЛИМЕНКО, Г. А.; РЮДЕНАУЭР, Ф. Г.; ШТАЙГЕР, В. Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, Харків, Україна, v. 15, n. 9, p. 920–925, 1989. Disponível em: http://fnt.ilt.kharkiv.ua/index.php/fnt/article/view/f15-0920r. Acesso em: 22 груд. 2024.