(1)
Дмитренко, И. М.; Гриб, П. А.; Сиваков, А. Г.; Турутанов, О. Г.; Журавель, А. П. Исследование пространственного распределения критических токов в пленках ВТСП методом лазерной сканирующей микроскопии. Fiz. Nizk. Temp. 1993, 19, 369-374.