ЧЕНАКИН, С. П.; ЧЕРЕПИН, В. Т.; НИКИТИН, Б. Г.; КЛИМЕНКО, Г. А.; РЮДЕНАУЭР, Ф. Г.; ШТАЙГЕР, В. Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов. Fiz. Nizk. Temp. 1989, 15, 920-925.